史密斯探测－沃特福特申请采样系统、检测装置及其使用方法专利，可实现更有效的检测分析

金融界2025年4月26日消息，国家知识产权局信息显示，史密斯探测－沃特福特有限公司申请一项名为“采样系统、检测装置及其使用方法”的专利，公开号CN119866433A，申请日期为2023年8月。

专利摘要显示，一种用于检测装置的采样系统，该检测装置包括：(i)具有电离器的离子分析器以及(ii)用于检测样品接收表面上感兴趣物质的光学分析器。该采样系统包括：用于获取待采样的一体积的空气的检测器入口；布置在所述检测器入口的离子分析器采样入口，从所述检测器入口的所述一体积的空气中获取第一样品并将第一样品提供给所述电离器；以及设置在所述检测器入口的样品接收表面，从所述检测器入口的所述一体积的空气中接收第二样品，用于对其进行光学分析。

本文源自：金融界

作者：情报员