西安爱德华测量设备申请光谱共焦三维扫描测量结构专利，有效测量待测工件尺寸

金融界2025年4月29日消息，国家知识产权局信息显示，西安爱德华测量设备股份有限公司申请一项名为“一种光谱共焦三维扫描测量结构”的专利，公开号CN119879768A，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种光谱共焦三维扫描测量结构，包括基座，所述基座上安装有扫描测量组件；所述扫描测量组件包括光谱测量组件和机械测量组件，所述机械测量组件包括直接测量部和反馈测量部，所述直接测量部和所述反馈测量部联动安装在所述基座上；所述光谱测量组件安装在所述反馈测量部周侧；所述直接测量部用于与待测工件表面接触，产生直接位移变化；所述反馈测量部跟随所述直接测量部发生反馈位移变化；所述光谱测量组件测量所述反馈测量部产生的反馈位移变化，获取所述反馈测量部在空间内的位置变化数据，从而得到待测工件尺寸。

天眼查资料显示，西安爱德华测量设备股份有限公司，成立于1997年，位于西安市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本5500万人民币。通过天眼查大数据分析，西安爱德华测量设备股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目88次，财产线索方面有商标信息72条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可13个。

本文源自：金融界

作者：情报员